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半導體/集成電路/微型真空探針臺 KT-Z165M4LT精巧型真空腔體測試腔主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺，臺面為φ30，臺面最高可升溫到最高400℃。

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微型真空探針臺測試腔主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺，臺面為φ30，臺面最高可升溫到最高400℃。臺面四周裝有微型3軸可移動鎢鋼探針，特別適合微小未封裝的叉指電極等傳感器測試。

KT-Z1604T探針臺主要應(yīng)用于傳感器，半導體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)光電流基礎(chǔ)測試探針臺廠家直供，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本